Terahertz Teknolojileri Laboratuvarı

Terahertz teknolojileri laboratuvarımızın temel çalışma alanları optik, fotonik devrelerin tasarlanması, eklemeli imalat ile üretilmesi ve ölçümlerinin gerçekleştirilmesidir. Laboratuvarımız içerisinde 2 adet 3 boyutlu yazıcı ve Terahertz zaman alanı spektroskopisi (THz-TDS) cihazı, elektrik elektronik bölümünde geniş bir kullanım alanına sahiptir.

Time Domain Terahertz Platform

• TeraFlash Pro, malzeme bilimi, güvenlik taraması, biyomedikal görüntüleme ve telekomünikasyon alanlarında kullanılan gelişmiş bir terahertz ölçüm sistemidir.

• Sistem, kısa lazer darbeleri ile THz dalgaları üretir ve numune ile etkileşim sırasında oluşan zaman gecikmesi ve genlik değişimlerini ölçerek spektrum verisi elde etmektedir.

• Bu veriler kullanılarak numunenin elektriksel ve optik özellikleri yüksek hassasiyetle analiz edilmektedir.

• Yüksek çözünürlük ve geniş bant genişliği sayesinde optik bileşenlerin karakterizasyonu, kompozit malzeme analizi ve güvenlik uygulamalarında kullanılmaktadır.

THz Time-Domain Imaging (TDI) Platformu

• THz Time-Domain Imaging (TDI) platformu, terahertz frekanslarında çalışan ve malzemelerin iç yapısını temassız ve tahribatsız şekilde görüntüleyen gelişmiş bir karakterizasyon sistemidir. Malzeme bilimi, yarıiletken teknolojileri, kompozit analizleri ve güvenlik uygulamalarında kullanılmaktadır.

• Sistem, THz zaman alanı spektroskopisi prensibiyle çalışarak numuneden geçen veya yansıyan THz dalgalarındaki zaman gecikmesi ve genlik değişimlerini ölçer ve uzaysal çözünürlüklü görüntüler oluşturmaktadır.

• Femtosaniye lazer darbeleri ile üretilen THz sinyalleri nokta-nokta taranarak iki veya üç boyutlu görüntüler elde edilmektedir.

• Bu yöntemle numune içindeki kusurlar, boşluklar, delaminasyonlar ve katman yapıları yüksek hassasiyetle belirlenebilmektedir.

3B Eklemeli İmalat / Stereolitografi

• Formlabs Form 3, eklemeli imalat teknolojisinde yaygın kullanılan ve özellikle RF ile optik bileşen üretiminde önemli rol oynayan bir 3D yazıcıdır.

• Cihaz, yüksek hassasiyetli stereolitografi (SLA) teknolojisi ile karmaşık geometrili parçaların yüksek çözünürlük ve yüzey kalitesiyle üretilmesini sağlamaktadır.

• Eklemeli imalat sayesinde prototipleme süreci hızlanır ve tasarımlar hızlı şekilde test edilip optimize edilebilir. Sistem, sıvı fotopolimer reçinenin katman katman sertleştirilmesi prensibiyle çalışmaktadır.

• Lazer, reçine yüzeyini tarayarak seçilen bölgeleri sertleştirir; her katman tamamlandığında yapı yukarı kaldırılır ve süreç parça tamamlanana kadar tekrarlanmaktadır.

• Bu yöntemle karmaşık ve hassas parçalar üretilebilir. Formlabs Form 3, geniş malzeme seçenekleri sayesinde farklı uygulamalara uyum sağlar ve özellikle RF ile optik bileşenlerin tasarım optimizasyonunda avantaj sunmaktadır.

3B Eklemeli İmalat / Micro-Stereolitografi

• AnyCubic Mono M5S, eklemeli imalat alanında kullanılan ve farklı uygulamalarda tercih edilen bir 3D yazıcıdır.

• Özellikle prototipleme ve tasarım geliştirme süreçlerinde yüksek hassasiyetle detaylı parçaların üretilmesini sağlamaktadır.

• Sistem, LCD ekran ve UV ışık kullanarak sıvı reçinenin katman katman sertleştirilmesi prensibiyle çalışmaktadır.

• UV ışıkla oluşturulan katmanlar ardışık olarak inşa edilerek model tamamlanır ve yüksek çözünürlüklü parçalar elde edilmektedir.

• Farklı reçine türleriyle uyumlu çalışması sayesinde çeşitli uygulamalarda esnek üretim imkânı sunmaktadır.

Vektör Network Analizörü

• Vektör Network Analizörü (VNA), RF ve mikrodalga frekanslarında çalışan devre ve bileşenlerin elektriksel karakterizasyonu için kullanılan bir ölçüm sistemidir.

• Sistem, frekansa bağlı yansıma ve iletim davranışlarını ölçerek S-parametreleri (S₁₁, S₂₁, S₁₂, S₂₂) üzerinden analiz yapılmasını sağlamaktadır.

• Numuneye gönderilen RF sinyallerinin giriş ve çıkış portlarındaki yansıyan ve iletilen bileşenleri ölçülerek genlik ve faz bilgisi elde edilmektedir.

• Bu veriler; filtreler, amplifikatörler, dalga kılavuzları, mikroşerit yapılar, rezonatörler ve antenlerin performans analizinde kullanılmaktadır.

• Geniş frekans aralığı ve yüksek ölçüm doğruluğu sayesinde VNA, akademik ve endüstriyel Ar-Ge çalışmalarında temel bir ölçüm altyapısıdır.

Anten Yayılımı Ölçüm Sistemleri

• Anten ölçüm sistemleri, RF ve mikrodalga frekanslarında çalışan antenlerin elektromanyetik performansını karakterize etmek için kullanılan ölçüm altyapılarıdır.

• Sistem; radyasyon deseni, kazanç, yönlülük, bant genişliği ve polarizasyon gibi temel anten parametrelerini ölçebilmektedir.

• Anten belirli açılarda döndürülerek referans antenlerle karşılaştırmalı ölçümler yapılmakta ve far-field veya near-field radyasyon haritaları elde edilebilmektedir.

• Bu veriler anten tasarımının doğrulanması, performans analizi ve optimizasyonu için kullanılmaktadır.

• Geniş frekans aralığı ve yüksek ölçüm doğruluğu sayesinde akademik ve endüstriyel Ar-Ge çalışmalarında önemli bir ölçüm altyapısıdır.